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x-ray檢測技術在LED芯片/器件封裝缺陷檢測中的應用

2021-12-09

近些年來,隨著制造成本的下降和發(fā)光效率、光衰等技術瓶頸的突破,我國的LED照明產(chǎn)業(yè)進入了加速發(fā)展階段,應用市場迅速增長,這導致了LED封裝產(chǎn)業(yè)的巨大市場,催生出了成千上萬家LED封裝企業(yè),使我國成為國際上LED封裝的[敏感詞]產(chǎn)量大國。但隨之而來的問題是,行業(yè)內(nèi)LED封裝產(chǎn)量質(zhì)量參差不齊的現(xiàn)象也成為了LED照明產(chǎn)業(yè)不容小覷的成長阻力因素。若LED封裝的廢品/次品率為0.1%,則全國每年億萬只LED封裝產(chǎn)品中就可能產(chǎn)生數(shù)億只廢品/次品,造成近億元的直接經(jīng)濟損失。

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從LED的封裝工藝過程看,在芯片的擴片、備膠、點晶環(huán)節(jié),有可能對芯片造成損傷,對LED的所有光、電特性產(chǎn)生影響。而在支架的固晶、壓焊過程中,則有可能產(chǎn)生芯片錯位、內(nèi)電極接觸不良,或者外電極引線虛焊或焊接應力,芯片錯位影響輸出光場的分布及效率,而內(nèi)外電極的接觸不良或虛焊則會增大LED的接觸電阻。在灌膠、環(huán)氧固化工藝中,則可能產(chǎn)生氣泡、熱應力,對LED的輸出光效產(chǎn)生影響。因此可知,在各個工藝環(huán)節(jié)任何微小差異都將迅速對LED封裝產(chǎn)品的質(zhì)量造成直接影響。為了提高產(chǎn)品封裝質(zhì)量,需要在各個生產(chǎn)工藝環(huán)節(jié)對其芯片/封裝質(zhì)量進行檢測,已將次品/廢品控制在[敏感詞]限度。

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由于LED芯片/器件的小型、精細及復雜特性,常規(guī)的檢測方法幾乎難以實現(xiàn)封裝中的質(zhì)量檢測,而采用x-ray檢測技術不破壞茶農(nóng)整體結構就能觀察到內(nèi)部缺陷,是很有必要的檢測手段。對于制造商而言,找到可靠且安全的方法以確保產(chǎn)品安全,提高產(chǎn)品質(zhì)量非常重要。艾蘭特科技有限公司成立于2008年,是一家集研發(fā),生產(chǎn),銷售為一體的專業(yè)X射線設備制造企業(yè),艾蘭特科技專門從事用于LED芯片、器件封裝的X射線檢測設備的開發(fā)和生產(chǎn)。艾蘭特科技的X射線檢查設備已在實際檢查中得到廣泛認可,設備可以針對不同的目標客戶進行定制,非標設備可以根據(jù)客戶要求進行定制。

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